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梓夢-納米粒度及ZETA電位分析儀 當激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度慢，反之顆粒小布朗運動速度快，因此動態(tài)光散射技術(shù)是分析樣品顆粒的散射光強隨時間的漲落規(guī)律，使用光子探測器在固定的角度采集散射光，通過相關(guān)器

美國DT電聲法zeta電位儀介紹：$nDT300粒度和Zeta電位分析儀器采用技術(shù)---多頻電聲學(xué)測量技術(shù)測量膠體體系的Zeta 電位。對于高達50％（體積）濃度的樣品，無需進行樣品稀釋或前處理即可直接測量。甚至對于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測量的材料都可用DT-300直接進行測量。

高分辨率zeta電位分析儀WALLISζ是一種創(chuàng)新的zeta電位分析儀，專門用于表征納米顆粒懸浮液。它基于重新審視的現(xiàn)代版激光多普勒電泳（LDE）技術(shù)，提供*的測量分辨率。它是Cordouan的VASCO粒度分析儀的補充，用于研究膠體溶液的穩(wěn)定性和性質(zhì)。

zeta電位分析儀-顯微成像法采取具有角度尋徑分辨率的高精度圖像分析方案，在垂直平面內(nèi)測量懸濁液中顆粒的電泳遷移率分布。1、 一種模塊化工具，用于解決測量從10nm到50μm顆粒的電泳遷移率所遇到的所有問題，并計算膠體懸浮液的zeta電位。2、激光照明和視頻接口能實現(xiàn)亞微米粒子的測量。3、石英測量池組裝了兩對鈀電極，構(gòu)成對稱的腔室。

zeta電位分析儀-流動電位法是用多孔塞技術(shù)直接測定流動電位/流動電流的Zeta電位分析儀。該技術(shù)適用于50µm以上的大顆粒、纖維和平坦的表面，或在一個壓力梯度下電解質(zhì)可以透過的曲面膜或中空纖維樣品。